換氣式老化試驗(yàn)箱測(cè)試電子元器件
換氣式老化試驗(yàn)箱測(cè)試電子元器件 換氣式老化試驗(yàn)箱
換氣式老化試驗(yàn)箱可以用于測(cè)試電子元器件的老化性能和可靠性。在電子元器件的生產(chǎn)和應(yīng)用過程中，長(zhǎng)時(shí)間的使用和不同環(huán)境條件下的影響可能導(dǎo)致電子元器件的老化。通過換氣式老化試驗(yàn)箱可以模擬不同溫度、濕度和氧氣濃度的環(huán)境，對(duì)電子元器件進(jìn)行老化測(cè)試。具體而言，換氣式老化試驗(yàn)箱可以模擬電子元器件在高溫、低溫、濕度和氧氣濃度變化的環(huán)境條件下的老化過程。通過設(shè)置不同的溫度、濕度和氧氣濃度，可以模擬電子元器件在各種不同環(huán)境下的使用情況，并對(duì)其耐老化性能進(jìn)行評(píng)估。
在測(cè)試過程中，可以監(jiān)測(cè)電子元器件的電性能、機(jī)械性能和物理性能的變化。例如，可以測(cè)試電子元器件的電阻、電容、電感等電性能參數(shù)的變化情況，以及引腳的可靠性、焊點(diǎn)的可靠性等機(jī)械性能的變化情況。同時(shí)，還可以測(cè)試元器件表面的氧化程度、變色情況等物理性能的變化情況。
通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測(cè)試，可以評(píng)估電子元器件在長(zhǎng)時(shí)間使用和不同環(huán)境條件下的耐老化性能和可靠性，為產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)提供重要的參考依據(jù)。
一、用途簡(jiǎn)介：
適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品等等換氣老化試驗(yàn)；考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測(cè)定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
二、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：
GB/T 3512-2014中的規(guī)定要求《空氣熱老化試驗(yàn)箱》
GBT 11026.4-2012 電氣絕緣材料 耐熱性 第4部分：老化烘箱 單室烘箱
GB/T-7141-2008-塑料熱老化試驗(yàn)方法
HGT 3065-2008 《橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅 加熱減量的測(cè)定》
三、技術(shù)參數(shù)指標(biāo)：
設(shè)備型號(hào)： HE-HQ-100L、 HE-HQ-100G、 HE-HQ-150L、 HE-HQ-150G
溫度范圍： RT+15℃～200℃ RT+15℃～300℃、 RT+15℃～200℃ RT+15℃～300℃
內(nèi)箱尺寸： 寬450×高500×深450（mm）、 寬500×高600×深500（mm）
外形尺寸： 寬1050×高1600×深700（mm）、 寬1100×高1700×深750（mm）
內(nèi)箱材質(zhì)： SUS304#不銹鋼砂板：厚1.2mm
外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板，厚1.0mm粉體烤漆處理
保溫材質(zhì)： 耐高溫纖維巖棉，保溫效果好
轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)速： 3～20轉(zhuǎn)/分鐘，可調(diào)
定時(shí)器： 1～9999時(shí)（可選擇設(shè)定小時(shí)、分鐘、秒）溫到計(jì)時(shí)
顯示精度： 0.1℃
控制精度： ±0.5℃
溫度偏差： ±2.0℃（空載時(shí)）
升溫速率： 到100℃約15min
換氣率： 5～30次/小時(shí)
送風(fēng)方式： 內(nèi)部熱風(fēng)循環(huán)
保護(hù)系統(tǒng)： 超溫保護(hù)、接地保護(hù)、快速保險(xiǎn)等
使用電源： AC 單相 三線 220V 50/60HZ
換氣式老化試驗(yàn)箱測(cè)試電子元器件有以下好處：1. 可靠性評(píng)估：通過模擬不同環(huán)境條件下的老化過程，可以評(píng)估電子元器件的可靠性。在長(zhǎng)時(shí)間使用和不同環(huán)境條件下，電子元器件可能會(huì)出現(xiàn)性能下降、故障和損壞等問題。通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測(cè)試，可以提前發(fā)現(xiàn)并評(píng)估這些問題，為產(chǎn)品的可靠性提供重要的參考依據(jù)。
2. 產(chǎn)品改進(jìn)和優(yōu)化：通過換氣式老化試驗(yàn)箱的測(cè)試，可以了解電子元器件在不同環(huán)境條件下的性能變化情況。這些測(cè)試結(jié)果可以為產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供指導(dǎo)。例如，在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)某個(gè)環(huán)境條件下電子元器件的性能下降較為嚴(yán)重，可以針對(duì)該問題進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化，提高產(chǎn)品的性能和可靠性。
3. 延長(zhǎng)使用壽命：通過模擬不同環(huán)境條件下的老化過程，可以了解電子元器件的使用壽命。這對(duì)于一些長(zhǎng)壽命產(chǎn)品尤為重要，如航空航天器、醫(yī)療設(shè)備等。通過測(cè)試，可以預(yù)測(cè)電子元器件的老化速度和壽命，從而制定相應(yīng)的維護(hù)和更換計(jì)劃，延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。
4. 質(zhì)量控制和合規(guī)性驗(yàn)證：換氣式老化試驗(yàn)箱的測(cè)試可以作為產(chǎn)品質(zhì)量控制的一部分，確保產(chǎn)品符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和要求。通過測(cè)試，可以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能夠在各種環(huán)境條件下保持正常的性能和可靠性，以滿足用戶的需求和期望。
總之，換氣式老化試驗(yàn)箱的測(cè)試可以幫助評(píng)估電子元器件的可靠性、改進(jìn)產(chǎn)品、延長(zhǎng)使用壽命，并確保產(chǎn)品的質(zhì)量和合規(guī)性。這對(duì)于提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力、滿足用戶需求以及降低售后服務(wù)成本都具有重要意義。
