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          HAST加速老化試驗箱多層電路板測試

          發(fā)布日期:2023-06-30      點擊:479

          HAST加速老化試驗箱多層電路板測試  HAST加速老化試驗箱多層電路板測試好處

          HAST(Highly Accelerated Stress Test)加速老化試驗箱是一種常用于電子產(chǎn)品可靠性測試的設(shè)備。它可以模擬高溫、高濕環(huán)境,對電子產(chǎn)品進(jìn)行長時間的加速老化測試。在多層電路板測試中,HAST加速老化試驗箱可以幫助檢測電路板在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。它可以模擬現(xiàn)實生活中可能遇到的惡劣環(huán)境條件,通過加速老化測試,評估電路板在長期使用中是否會出現(xiàn)性能下降、功能失效等問題。

          在測試過程中,電路板會被放置在HAST加速老化試驗箱中,然后設(shè)定相應(yīng)的溫度和濕度條件。在高溫高濕的環(huán)境下,電路板會經(jīng)歷長時間的老化過程,通過監(jiān)測電路板的性能指標(biāo)和功能,可以評估其可靠性和耐久性。

          HAST加速老化試驗箱7.jpg


          多層電路板測試是電子產(chǎn)品開發(fā)和制造過程中重要的一環(huán),它可以幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題和缺陷,并提前進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。通過使用HAST加速老化試驗箱進(jìn)行多層電路板測試,可以有效提高電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性,確保其在各種環(huán)境條件下的正常運行。 一、設(shè)備用途:

              HAST加速老化試驗箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試,對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測試。

          二、設(shè)備特點:

          1) 采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),在很大程度上降低了使用故障率。

          2) 獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。

          3) 門鎖省力結(jié)構(gòu),解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

          4) 試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

          5) 超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機(jī)臺運轉(zhuǎn)400小時.

          6) 水位保護(hù),透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

          7) tank耐壓設(shè)計,箱體耐壓力(150)2.65kg,符合水壓測試6kg.

          8) 二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

          9) 安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

          10) 偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配)

          11) USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.

          三、主要技術(shù)參數(shù):

          設(shè)備型號: HE-HAST-40

          圓形內(nèi)箱尺寸: 直徑Φ400×500mm

          溫度范圍: +100℃~+132( 蒸氣溫度 )

          溫度波動度: ±0.5

          溫度顯示精度: 0.1

          濕度范圍: 70~100% 蒸氣濕度

          濕度控制穩(wěn)定度: ±3%RH

          使用壓力: 1.2~2.89kg(1atm)

          壓力波動均勻度: ±0.1Kg

          時間范圍: 0 Hr999Hr

          加壓時間: 0.00 Kg1.04 Kg/cm2   45

          控制器: PLC可程式彩色觸摸屏控制

          內(nèi)桶材質(zhì): SUS316#不銹鋼板

          外箱材質(zhì): SECC冷鋼板高溫烤漆處理

          使用電源: 單相 220V  20A  50/60Hz

          安全保護(hù): 超壓保護(hù),超溫保護(hù),缺水保護(hù)等

          水質(zhì)要求: 純水或蒸餾水(用戶自備)

          HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中有以下好處:1. 高效加速老化:HAST試驗箱可以模擬高溫高濕環(huán)境,通過提高溫度和濕度,加速電路板的老化過程。相比于自然老化,HAST試驗可以在較短的時間內(nèi)提供更快的老化速度,加快產(chǎn)品開發(fā)和測試周期。

          2. 發(fā)現(xiàn)潛在問題:通過多層電路板測試,可以及早發(fā)現(xiàn)電路板中的潛在問題和缺陷。HAST試驗可以暴露出電路板在高溫高濕環(huán)境下可能出現(xiàn)的性能下降、功能失效、電氣故障等問題,從而提前采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。

          3. 提高產(chǎn)品可靠性:通過經(jīng)過HAST加速老化試驗的多層電路板進(jìn)行測試,可以評估電路板在長期使用中的可靠性和耐久性。這樣可以確保產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境條件下仍然能夠正常運行,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

          4. 節(jié)省成本和時間:通過使用HAST試驗箱進(jìn)行多層電路板測試,可以在短時間內(nèi)獲得可靠的測試結(jié)果。這樣可以減少產(chǎn)品開發(fā)和測試周期,提高生產(chǎn)效率,同時也能夠減少因產(chǎn)品在實際使用中出現(xiàn)問題而導(dǎo)致的維修和返工成本。

          總的來說,HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中可以提供高效的加速老化測試,幫助發(fā)現(xiàn)潛在問題,提高產(chǎn)品可靠性,同時也能夠節(jié)省成本和時間。

           


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