1. <samp id="r8lny"></samp>
      2. <fieldset id="r8lny"><pre id="r8lny"></pre></fieldset>

          免费人成小说在线观看网站_最近国语高清免费观看视频_国产美女被遭强高潮免费网站_永久免费AV无码网站性色AV_人与嘼AV免费

          您的位置:首頁 > 技術支持 > HAST老化試驗箱

          HAST老化試驗箱

          發(fā)布日期:2023-06-10      點擊:433

          HAST加速老化在芯片行業(yè)用應用:

               HASTHighly Accelerated Stress Test)加速老化技術是一種在芯片行業(yè)常用的測試方法,用于模擬芯片在實際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境,以檢驗芯片的可靠性和壽命。HAST測試的原理是將芯片放置在高溫高濕的環(huán)境中,在一定時間內進行加速老化測試,以模擬長時間使用后可能出現(xiàn)的問題。通過這種測試方法,可以在短時間內檢驗芯片的可靠性和壽命,從而提高產(chǎn)品的質量和可靠性。

          637823380019815313373.jpg


              在芯片行業(yè)中,HAST測試被廣泛應用于各種芯片產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)過程中,包括微處理器、存儲芯片、傳感器芯片等。通過對芯片的HAST測試,可以提高產(chǎn)品的質量和可靠性,降低不良品率和客戶維修成本,從而提升企業(yè)的競爭力和。

          【標準依據(jù)】

              GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

          【性能指標】

          1.     設備型號:HE-HAST-40

          2.     設定溫度:+100℃~+132( 蒸氣溫度 )  

          3.     濕度范圍:70~100% 蒸氣濕度

          4.     濕度控制穩(wěn)定度:±3%RH

          5.     使用壓力:1.2~2.89kg(1atm)

          6.     時間范圍:0 Hr999 Hr

          7.     加壓時間:0.00 Kg1.04 Kg / cm2  45

          8.     溫度波動均勻度 : ±0.5

          9.     溫度顯示精度:0.1

          10.   壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

          11.   濕度分布均度:±3%RH

          【試驗箱材質】

          1.  試驗箱尺寸:直徑400mm x 500mm)圓型試驗箱

          2.  全機外尺寸:900x  850 x 1800 mm ( W * D * H )立式

          3.  內桶材質:不銹鋼板材質(SUS# 316  3 mm

          4.  外桶材質:不銹鋼板材質或選噴塑

          5.  保溫材質:巖棉及硬質polyurethane發(fā)泡保溫

          6.  蒸汽發(fā)室加熱管:鈦管加熱,生銹。

          HAST在芯片行業(yè)的工藝:

          HASTHighly Accelerated Stress Test)加速老化技術在芯片工藝中是一個重要的測試手段。在芯片生產(chǎn)過程中,需要對芯片進行各種測試,以確保其質量和可靠性。而HAST測試作為一種加速老化測試方法,可以在短時間內模擬芯片在實際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境,從而檢驗芯片的可靠性和壽命。HAST測試的工藝流程包括以下幾個步驟:

          1. 樣品制備:從芯片生產(chǎn)線上抽取樣品,進行切割、封裝等處理,制成測試樣品。

          2. HAST測試條件設置:設置測試溫度、濕度、氣壓等測試條件,以及測試時間和測試樣品數(shù)量等參數(shù)。

          3. HAST測試:將測試樣品放置在HAST測試設備中進行測試,測試時間通常在數(shù)小時至數(shù)十小時之間。

          4. 測試結果分析:對測試結果進行分析,包括檢查芯片的性能、可靠性和壽命等指標,以及檢查是否存在芯片失效和損壞等情況。

          5. 結論和報告:根據(jù)測試結果得出結論,并編寫測試報告,作為芯片質量控制和生產(chǎn)過程改進的依據(jù)。

          總之,HAST測試在芯片行業(yè)中是一個非常重要的工藝,可以有效提高芯片的可靠性和壽命,降低不良品率和客戶維修成本,從而提高企業(yè)的競爭力和。


          国产乱了真实在线观看_最近国语高清免费观看视频_国产美女被遭强高潮免费网站_永久免费AV无码网站性色AV

            1. <samp id="r8lny"></samp>
            2. <fieldset id="r8lny"><pre id="r8lny"></pre></fieldset>